Mineraloji-Petrografi Araştırmaları Birimi

Taramalı Elektron Mikroskobu Analizleri (SEM)

Taramalı elektron mikroskobu yüksek büyütmelerde yüksek çözünürlüklü görüntü alma tekniğidir. Bu teknik sayesinde düşük büyütmelerden çok yüksek büyütmelere (x300.000 veya daha fazla) kadar morfolojik, yapısal ve elementel bilgiler alınabilmektedir.

Yüksek vakum koşulları altında ikincil elektron (SE), geri saçılmış elektron (BSE) veya karışık (SE+BSE) sinyal görüntüleri alınarak fotoğraflama yapılmaktadır.

Ayrıca incelenen numuneler üzerinde X-ray elementel dağılım haritalaması (X-ray mapping) ile incelenen numune üzerinde standartsız kalitatif elementel analizler (SEM-EDS) yapılmaktadır.

FEI Quanta 400 MK2 SEM, EDAX Genesis XM4i EDS Analiz Sistemi

İletişim Bilgileri

  • Adres: Üniversiteler Mahallesi Dumlupınar Bulvarı No:139 06800 Çankaya/ANKARA
  • Telefon: (0312) 201 10 00 Pbx
  • Faks      : (0312) 287 91 88
  • E-posta: mta@mta.gov.tr

              

Arama

Her Hakkı Saklıdır © MTA 2016
Anasayfa - Webmaster    Ziyaretçi Sayımız : 2.149.986

Bilimsel Dokümantasyon ve Tanıtma Dairesi